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Alloys Sn-Bi 台式光谱仪用锡铋合金镀层标准片
Alloys Sn-Bi 台式光谱仪用锡铋合金镀层标准片，锡铋合金镀层标准片由锡铋2种元素组成，可以放置在任何空白基材上进行XRF校准。由于箔片比较脆弱，所以箔片底部都贴有聚酯薄膜，以提供支撑并增强耐用型。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上，以便于处理和贴标签，暴露箔片的有限区域以进行测量。合金箔片用于通过XRF校准基材上镀锡铋合金的厚度测量和成分测量应用。
锡铋合金镀层标准片选购指南：
以上为常用厚度，如需要特殊厚度或需要基材，请联系上海益朗仪器有限公司。
注意：
1.对于小于等于1微米（40μin）的厚度，交货标准的允许厚度偏差为±10％。
2.如果厚度> 1微米（40μin），则所交付标准的允许层厚度偏差为±15％。
3.均匀度：5％。
4.认证厚度不确定度（95％置信区间）±5％。
定义：
均匀度的定义是：（Z大厚度–Z小厚度）/平均
表示为百分比，其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。
锡铋合金镀层标准片选购指南：
| Sn-Bi (Tin-Bismuth) foils XRF Coating Thickness Standards | |
| 货号 | 标称值 |
| SSNBI160-40 | 160μin（4.0μm）,40% Sn，60% Bi |
| SSNBI520-40 | 520μin（13μm）,40% Sn，60% Bi |
| SSNBI200-60 | 200μin（5.0μm）,60% Sn，40% Bi |
| SSNBI500-60 | 500μin（12.5μm）,60% Sn，40% Bi |
| SSNBI70-90 | 70μin（1.8μm）,90% Sn，10% Bi |
| SSNBI100-90 | 100μin（2.5μm）,90% Sn，10% Bi |
| SSNBI200-90 | 200μin（5.0μm）,90% Sn，10% Bi |
| SSNBI520-90 | 520μin（13μm）,90% Sn，10% Bi |
| SSNBI100-97 | 100μin（2.5μm）,97% Sn，3% Bi |
| SSNBI200-97 | 200μin（5.0μm）,97% Sn，3% Bi |
| SSNBI500-97 | 500μin（12.5μm）,97% Sn，3% Bi |
| SSNBI800-97 | 800μin（20μm）,97% Sn，3% Bi |
注意：
1.对于小于等于1微米（40μin）的厚度，交货标准的允许厚度偏差为±10％。
2.如果厚度> 1微米（40μin），则所交付标准的允许层厚度偏差为±15％。
3.均匀度：5％。
4.认证厚度不确定度（95％置信区间）±5％。
定义：
均匀度的定义是：（Z大厚度–Z小厚度）/平均
表示为百分比，其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。
