Cr/Cu 手持式光谱仪用铜上镀铬厚度标准片
Cr/Cu 手持式光谱仪用铜上镀铬厚度标准片,通过溅射或电镀方法将高纯度铬沉积在铜基材上。是用于校准便携式手持XRF设备,以测量铜基材上镀铬的产品。手持式光谱仪用铜上镀铬标准片是坚固不易弯曲的材料,安装在带有十字线的阳极氧化铝板上,以方便手持XRF仪器的定位和校准。
铜上镀铬厚度标准片选购指南:
以上为常用厚度,如需要特殊厚度或需要其他基材,请联系上海益朗仪器有限公司。
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。
由于箔片太脆弱而无法与手持式光谱仪一起使用,因此铜上镀铬厚度标准片以独特的方式包装,以便与手持式光谱仪一起使用。标准设计允许用户在有或没有视频成像的情况下瞄准标准,以便校准便携式XRF仪器的薄膜厚度和材料分析测试。适合用于以下品牌但不限于以下品牌:尼通、伊诺斯、奥林巴斯、牛津、斯派克、日立、牛津、天瑞、浪声等。
铜上镀铬厚度标准片选购指南:
Cr/Cu (Chromium/Copper) Handheld XRF Coating Thickness Standards | |
货号 | 标称值 |
HHCR60CU999 | 60μin(1.5μm) |
HHCR80CU999 | 80μin(2μm) |
HHCR200CU999 | 200μin(5.0μm) |
HHCR400CU999 | 400μin(10μm) |
HHCR600CU999 | 600μin(15μm) |
HHCR1000CU999 | 1000μin(25μm) |
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。
由于箔片太脆弱而无法与手持式光谱仪一起使用,因此铜上镀铬厚度标准片以独特的方式包装,以便与手持式光谱仪一起使用。标准设计允许用户在有或没有视频成像的情况下瞄准标准,以便校准便携式XRF仪器的薄膜厚度和材料分析测试。适合用于以下品牌但不限于以下品牌:尼通、伊诺斯、奥林巴斯、牛津、斯派克、日立、牛津、天瑞、浪声等。