Sn/Cu 手持式光谱仪用铜上镀锡厚度标准片

Sn/Cu 手持式光谱仪用铜上镀锡厚度标准片，通过溅射或电镀方法将高纯度锡沉积在铜基材上。是用于校准便携式手持XRF设备，以测量铜基材上镀锡的产品。手持式光谱仪用铜上镀锡标准片是坚固不易弯曲的材料，安装在带有十字线的阳极氧化铝板上，以方便手持XRF仪器的定位和校准。
铜上镀锡厚度标准片选购指南：

Sn/Cu (Tin/Copper) Handheld XRF Coating Thickness Standards
货号	标称值
HHSN4CU999	4μin（0.1μm）
HHSN10CU999	10μin（0.25μm）
HHSN20CU999	20μin（0.5μm）
HHSN40CU999	40μin（1μm）
HHSN80CU999	80μin（2μm）
HHSN150CU999	150μin（3.75μm）
HHSN200CU999	200μin（5.0μm）
HHSN300CU999	300μin（7.5μm）
HHSN400CU999	400μin（10μm）
HHSN500CU999	500μin（12.5μm）
HHSN600CU999	600μin（15μm）
HHSN800CU999	800μin（20μm）
HHSN1000CU999	1000μin（25μm）
HHSN1200CU999	1200μin（30μm）
HHSN2000CU999	2000μin（50μm）

以上为常用厚度，如需要特殊厚度或需要其他基材，请联系上海益朗仪器有限公司。
注意：
1.对于小于等于1微米（40μin）的厚度，交货标准的允许厚度偏差为±10％。
2.如果厚度> 1微米（40μin），则所交付标准的允许层厚度偏差为±15％。
3.均匀度：5％。
4.认证厚度不确定度（95％置信区间）±5％。
定义：
均匀度的定义是：（Z大厚度–Z小厚度）/平均
表示为百分比，其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。
由于箔片太脆弱而无法与手持式光谱仪一起使用，因此铜上镀锡厚度标准片以独特的方式包装，以便与手持式光谱仪一起使用。标准设计允许用户在有或没有视频成像的情况下瞄准标准，以便校准便携式XRF仪器的薄膜厚度和材料分析测试。适合用于以下品牌但不限于以下品牌：尼通、伊诺斯、奥林巴斯、牛津、斯派克、日立、牛津、天瑞、浪声等。