Ta/XX 台式光谱仪用钽镀层标准片
Ta/XX 台式光谱仪用钽镀层标准片,用于校准XRF仪器以精确测试镀钽产品的厚度。使用溅射,电镀或机械轧制方法生产,应用更广泛;可以将每一片叠加在一起以产生另外的厚度和/或多层标准箔。
钽镀层标准片选购指南:
以上为常用厚度,如需要特殊厚度或需要基材,请联系上海益朗仪器有限公司。
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。
钽镀层标准片选购指南:
Ta (Tantalum) Foils XRF Coating Thickness Standards | |
货号 | 标称值 |
STA4 | 4μin(0.10μm) |
STA10 | 10μin(0.25μm) |
STA20 | 20μin(0.50μm) |
STA40 | 40μin(1.0μm) |
STA60 | 60μin(1.5μm) |
STA80 | 80μin(2.0μm) |
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。