Ag/Ni/XX 台式光谱仪用镍银双镀层标准片
Ag/Ni/XX 台式光谱仪用镍银双镀层标准片,高纯度的银镍元素箔片,由独立的银层和镍层组成,可以放置在任何空白基材上进行XRF校准。由于箔片比较脆弱,所以箔片底部都贴有聚酯薄膜,以提供支撑并增强耐用型。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上,以便于处理和贴标签,暴露箔片的有限区域以进行测量。双层箔片用于通过XRF校准镍上镀银的厚度测量应用。
镍银双镀层标准片选购指南:Ag/Ni (Silver/Nickel) 2 Layer Foils XRF Coating Thickness Standards | ||
货号 | 标称值(Ag) | 标称值(Ni) |
SAG45NI90 | 45μin(1.1μm) | 90μin(2.3μm) |
SAG45NI200 | 45μin(1.1μm) | 200μin(5μm) |
SAG45NI400 | 45μin(1.1μm) | 400μin(5μm) |
SAG160NI200 | 160μin(4μm) | 200μin(5μm) |
SAG160N400 | 160μin(4μm) | 400μin(5μm) |
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。