Au/Ni-P/XX 台式光谱仪用镍磷金双镀层标准片
Au/Ni-P/XX 台式光谱仪用镍磷金双镀层标准片,高纯度的金镍磷元素箔片,由独立的金层和镍磷层组成,可以放置在任何空白基材上进行XRF校准。由于箔片比较脆弱,所以箔片底部都贴有聚酯薄膜,以提供支撑并增强耐用型。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上,以便于处理和贴标签,暴露箔片的有限区域以进行测量。双层箔片用于通过XRF校准镍磷上镀金的厚度测量应用。
镍金双镀层标准片选购指南:
以上为常用厚度,如需要特殊厚度或需要基材,请联系上海益朗仪器有限公司。
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。
镍金双镀层标准片选购指南:
Au/Ni-P (Gold/Electroless Nickel) 2 Layer Foils XRF Coating Thickness Standards | ||
货号 | 标称值(Au) | 标称值(Ni-P) |
SAU2NIP120-92 | 2μin(0.05μm) | 120μin(3μm),8% P |
SAU4NIP240-92 | 4μin(0.10μm) | 240μin(6μm),8% P |
SAU20NIP80-92 | 20μin(0.5μm) | 80μin(2μm),8% P |
SAU30NIP30-92 | 30μin(0.8μm) | 30μin(0.8μm),8% P |
SAU30NIP60-92 | 30μin(0.8μm) | 60μin(1.5μm),8% P |
SAU40NIP200-92 | 40μin(1μm) | 200μin(5μm),8% P |
SAU40NIP999-92 | 40μin(1μm) | ∞,8% P |
SAU80NIP999-92 | 80μin(2μm) | ∞,8% P |
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。