Cr/Ni/Cu/XX 台式光谱仪用铜镍铬三镀层标准片
Cr/Ni/Cu/XX 台式光谱仪用铜镍铬三镀层标准片,高纯度的铜镍铬元素箔片,由独立的铜层、镍层和铬层组成,可以放置在任何空白基材上进行XRF校准。由于箔片比较脆弱,所以箔片底部都贴有聚酯薄膜,以提供支撑并增强耐用型。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上,以便于处理和贴标签,暴露箔片的有限区域以进行测量。三层箔片用于通过XRF校准基材上镀铜镀镍再镀铬的厚度测量应用。
铜镍铬三镀层标准片选购指南:
以上为常用厚度,如需要特殊厚度或需要基材,请联系上海益朗仪器有限公司。
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。
铜镍铬三镀层标准片选购指南:
Cr/Ni/Cu (Chromium/Nickel/Copper) 3 Layer Foils XRF Coating Thickness Standards | |||
货号 | 标称值(Cr) | 标称值(Ni) | 标称值(Cu) |
S13100-1 | 10μin(0.25μm) | 200μin(5μm) | 200μin(5μm) |
S13100-2 | 10μin(0.25μm) | 200μin(5μm) | 500μin(12.5μm) |
S13100-3 | 20μin(0.5μm) | 200μin(5μm) | 500μin(12.5μm) |
S13100-4 | 10μin(0.25μm) | 200μin(5μm) | 700μin(17.8μm) |
S13100-5 | 10μin(0.25μm) | 400μin(10μm) | 700μin(17.8μm) |
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。