Alloys Cu-Sn 台式光谱仪用铜锡合金镀层标准片
Alloys Cu-Sn 台式光谱仪用铜锡合金镀层标准片,铜锡合金镀层标准片由铜锡2种元素组成,可以放置在任何空白基材上进行XRF校准。由于箔片比较脆弱,所以箔片底部都贴有聚酯薄膜,以提供支撑并增强耐用型。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上,以便于处理和贴标签,暴露箔片的有限区域以进行测量。合金箔片用于通过XRF校准基材上镀铜锡合金的厚度测量和成分测量应用。
铜锡合金镀层标准片选购指南:
以上为常用厚度,如需要特殊厚度或需要基材,请联系上海益朗仪器有限公司。
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(***厚度–***小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。
铜锡合金镀层标准片选购指南:
Cu-Sn (Copper-Tin) foils XRF Coating Thickness Standards | |
货号 | 标称值(Cu-Sn) |
SCUSN1000-95 | 1000μin(25μm),95% Cu,5% Sn |
SCUSN2000-95 | 2000μin(50μm),95% Cu,5% Sn |
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(***厚度–***小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。