Au-Ag/Pd/Ni/XX光谱仪用镍钯金银合金三镀层标准片

Au-Ag/Pd/Ni/XX 台式光谱仪用镍钯金银合金三镀层标准片，高纯度的镍钯金银合金元素箔片，由独立的镍层、钯层和金银合金层组成，可以放置在任何空白基材上进行XRF校准。由于箔片比较脆弱，所以箔片底部都贴有聚酯薄膜，以提供支撑并增强耐用型。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上，以便于处理和贴标签，暴露箔片的有限区域以进行测量。三层箔片用于通过XRF校准基材上镀镍镀钯再镀金银合金的厚度测量应用。
镍钯金银合金三镀层标准片选购指南：

Au-Ag/Pd/Ni (Gold-Silver alloy/Palladium/Nickel) 3 Layer Foils XRF Coating Thickness Standards
货号	标称值（Au-Ag）	标称值（Pd）	标称值（Ni）
S12521-P1	0.5μin（0.013μm），50% Au，50% Ag	0.6μin（0.015μm）	40μin（1μm）
S12521-P2	1.2μin（0.03μm），50% Au，50% Ag	1.5μin（0.038μm）	100μin（2.5μm）
S12521-P3	2.5μin（0.06μm），50% Au，50% Ag	2.4μin（0.06μm）	160μin（4μm）

以上为常用厚度，如需要特殊厚度或需要基材，请联系上海益朗仪器有限公司。
注意：
1.对于小于等于1微米（40μin）的厚度，交货标准的允许厚度偏差为±10％。
2.如果厚度> 1微米（40μin），则所交付标准的允许层厚度偏差为±15％。
3.均匀度：5％。
4.认证厚度不确定度（95％置信区间）±5％。
定义：
均匀度的定义是：（Z大厚度–Z小厚度）/平均
表示为百分比，其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。