Au/Ag/Pd/Ni/XX台式光谱仪用镍钯银金四镀层标准片
Au/Ag/Pd/Ni/XX 台式光谱仪用镍钯银金四镀层标准片,高纯度的镍钯银金元素箔片,由独立的镍层、钯层、银层和金层组成,可以放置在任何空白基材上进行XRF校准。由于箔片比较脆弱,所以箔片底部都贴有聚酯薄膜,以提供支撑并增强耐用型。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上,以便于处理和贴标签,暴露箔片的有限区域以进行测量。四层箔片用于通过XRF校准基材上镀镍镀钯镀银再镀金的厚度测量应用。
镍钯银金四镀层标准片选购指南:
以上为常用厚度,如需要特殊厚度或需要基材,请联系上海益朗仪器有限公司。
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。
镍钯银金四镀层标准片选购指南:
Au-Ag/Pd/Ni (Gold/Silver/Palladium/Nickel) 4 Layer Foils XRF Coating Thickness Standards | ||||
货号 | 标称值(Au) | 标称值(Ag) | 标称值(Pd) | 标称值(Ni) |
S12910-1 | 0.2μin(0.005μm) | 0.4μin(0.01μm) | 0.4μin(0.01μm) | 20μin(0.5μm) |
S12910-2 | 0.4μin(0.01μm) | 4μin(0.1μm) | 3μin(0.07μm) | 80μin(2μm) |
S12910-3 | 0.8μin(0.02μm) | 20μin(0.5μm) | 8μin(0.2μm) | 160μin(4μm) |
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。