Alloys Au-Sn 台式光谱仪用金锡合金镀层标准片
Alloys Au-Sn 台式光谱仪用金锡合金镀层标准片,金锡合金镀层标准片由金锡2种元素组成,可以放置在任何空白基材上进行XRF校准。由于箔片比较脆弱,所以箔片底部都贴有聚酯薄膜,以提供支撑并增强耐用型。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上,以便于处理和贴标签,暴露箔片的有限区域以进行测量。合金箔片用于通过XRF校准基材上镀金锡合金的厚度测量和成分测量应用。
金锡合金镀层标准片选购指南:
以上为常用厚度,如需要特殊厚度或需要基材,请联系上海益朗仪器有限公司。
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。
金锡合金镀层标准片选购指南:
Au-Sn (Gold-Tin) foils XRF Coating Thickness Standards | |
货号 | 标称值(Au-Sn) |
SAUSN80-80 | 80μin(2.0μm),80% Au,20% Sn |
SAUSN120-80 | 120μin(3.0μm),80% Au,20% Sn |
SAUSN200-80 | 200μin(5.0μm),80% Au,20% Sn |
SAUSN320-80 | 320μin(8.0μm),80% Au,20% Sn |
SAUSN400-80 | 400μin(10μm),80% Au,20% Sn |
SAUSN500-80 | 500μin(12.5μm),80% Au,20% Sn |
SAUSN800-80 | 800μin(20μm),80% Au,20% Sn |
注意:
1.对于小于等于1微米(40μin)的厚度,交货标准的允许厚度偏差为±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),则所交付标准的允许层厚度偏差为±15%。
3.均匀度:5%。
4.认证厚度不确定度(95%置信区间)±5%。
定义:
均匀度的定义是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示为百分比,其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。